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FIB-SEM超高分辨雙束掃描電鏡系統(tǒng) 電子顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱泰思肯貿(mào)易(上海)有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/8/10 9:49:45
  • 訪問次數(shù)5501
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TESCAN是一家專注于微觀形貌、結(jié)構(gòu)和成分分析的科學儀器的跨國公司,是的電子顯微儀器制造商,總部位于大的電鏡制造基地-捷克布爾諾,且已建立起的銷售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò),在捷克、法國和美國擁有4家研發(fā)中心、2個生產(chǎn)基地以及6家海外子公司,已有超過60年的電子顯微鏡研發(fā)和制造歷史。其產(chǎn)品主要有電子顯微鏡、聚焦離子束系統(tǒng)、多通道全息顯微鏡及相關(guān)分析附件和軟件,正被廣泛應(yīng)用于醫(yī)學、生物、生化、農(nóng)業(yè)、材料科學、冶金、化學、石油、制藥、半導體和電子器件等領(lǐng)域中。

作為科學儀器的供應(yīng)商之一,TESCAN正為其在設(shè)計、研發(fā)和制造掃描電子顯微鏡及掃描電子顯微鏡在不同領(lǐng)域的應(yīng)用方面樹立良好的聲譽和品牌。目前TESCAN的產(chǎn)品和解決方案已經(jīng)在微納米技術(shù)領(lǐng)域取得了一定地位,掃描電子顯微鏡與拉曼光譜儀聯(lián)用技術(shù)、聚焦離子束與飛行時間質(zhì)譜儀聯(lián)用技術(shù)以及氙等離子聚焦離子束技術(shù),也是行業(yè)領(lǐng)域的技術(shù)*。TESCAN憑借優(yōu)異的性能贏得*越來越多的用戶認可,目前生產(chǎn)的各系列電鏡在世界范圍內(nèi)受到廣泛的好評。從2000年至今已有2500多臺電鏡積極地服務(wù)于客戶。

掃描電鏡,熒光顯微鏡,電鏡耗材
產(chǎn)地 國產(chǎn) 產(chǎn)品新舊 全新
FIB-SEM超高分辨雙束掃描電鏡系統(tǒng)是一款可以挑戰(zhàn)納米設(shè)計應(yīng)用的理想平臺,它同時具備的精度和微量分析的能力。GAIA3 model 2016擅長的一些應(yīng)用包括制備高質(zhì)量的超薄TEM樣品,在技術(shù)節(jié)點減少層級的過程,精確的納米構(gòu)圖或高分辨率的三維重建。
FIB-SEM超高分辨雙束掃描電鏡系統(tǒng) 電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

FIB-SEM超高分辨雙束掃描電鏡系統(tǒng)

主要特點

TriglavTM-新設(shè)計的超高分辨(UHR)電子鏡筒配置了TriglavTM物鏡和*的探測系統(tǒng)

以*的方式結(jié)合了三透鏡物鏡和crossover-free模式

*的且可隨意變化的探測系統(tǒng)可用于同步獲取不同的信號

超高的納米分辨率:15keV下0.7nm,1keV下1nm

極限超高分辨率:1keV下1nm

可變角度的BSE探測器,優(yōu)化了低能量下能量反差

實時電子束追蹤(In-flight Beam TracingTM)實現(xiàn)了電子束的優(yōu)化

傳統(tǒng)的TESCAN大視野光路(Wide Field OpticalTM)設(shè)計提供了不同的工作和顯示模式

有效減少熱能損耗,的電子鏡筒的穩(wěn)定性

新款的肖特基場發(fā)射電子槍現(xiàn)在能實現(xiàn)電子束電流達到400nA,且電子束能量可快速的改變

為失效分析檢測過程中的新技術(shù)節(jié)點提供了*的解決方案

適合精巧的生物樣品成像

FIB-SEM超高分辨雙束掃描電鏡系統(tǒng)可觀察磁性樣品

優(yōu)化的鏡筒幾何學配置使得8’’晶元觀察成為可能(SEM觀察和FIB納米加工)

*的實時三維立體成像,使用了三維電子束技術(shù)

友好的,成熟的SW模塊和自動化程序

Cobra FIB鏡筒:高性能的Ga FIB鏡筒,實現(xiàn)超高精度納米建模

在刻蝕和成像方面是水平的技術(shù)

Cobra保證在短時間內(nèi)完成剖面處理和TEM樣品制備

FIB分辨率<2.5nm

FIB-SEM斷層分析可應(yīng)用于高分辨的三維顯微分析

適合生物樣品的三維超微結(jié)構(gòu)研究,例如組織和完整的細胞

低電壓下的性能,適合于刻蝕超薄樣品和減少非晶層

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