inVia InSpect — 為您的刑偵痕量分析實(shí)驗(yàn)室添翼
在雷尼紹共焦顯微拉曼光譜儀的基礎(chǔ)上進(jìn)行優(yōu)化，專用于在刑偵實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行痕量分析。
識(shí)別其他技術(shù)分析困難或費(fèi)時(shí)的材料，例如硬結(jié)晶粉末、陶瓷碎片和玻璃碎片，極少或無需樣品制備即可輕松分析。
盡享專用型拉曼系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)
inVia™ InSpect可為您實(shí)現(xiàn)：
高空間分辨率 — 毫不遜色于您的其他顯微技術(shù)
各種顯微鏡對(duì)比觀察技術(shù) — 包括在反射和透射光照明下進(jìn)行明場(chǎng)、暗場(chǎng)和偏光觀察
高性能攝像機(jī)和長工作距離物鏡 — 在襯底上定位您要分析的點(diǎn)和區(qū)域，無論繁簡(jiǎn)
高精度自動(dòng)樣品臺(tái) — 分析微觀顆粒
雙激光波長 — 只需點(diǎn)擊按鈕，即可輕松切換波長分析樣品上的同一點(diǎn)
自動(dòng)準(zhǔn)直 — 內(nèi)置校準(zhǔn)檢查功能
顆粒分析 — 使用高級(jí)圖像識(shí)別算法和儀器控制功能來表征顆粒分布
相關(guān)成像 — 將拉曼數(shù)據(jù)與采用其他顯微技術(shù)獲得的圖像相結(jié)合，創(chuàng)建合成圖像
為什么您的刑偵實(shí)驗(yàn)室需要使用拉曼技術(shù)？
您在痕量分析實(shí)驗(yàn)室使用多種顯微技術(shù)，每種技術(shù)各有其優(yōu)缺點(diǎn)。將拉曼光譜引入實(shí)驗(yàn)室之后，您將獲得更強(qiáng)大的功能，進(jìn)一步補(bǔ)充您現(xiàn)有的技術(shù)：
查看最細(xì)微的細(xì)節(jié) — 使用各種光學(xué)顯微鏡技術(shù)精確展示拉曼分析結(jié)果
聚焦證據(jù) — 使用EasyConfocal™技術(shù)區(qū)分目標(biāo)區(qū)域與其周圍的區(qū)域
樣品制備極少 — 只要您可以使用光學(xué)顯微鏡聚焦樣品，就能采集其拉曼光譜
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